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解决方案

VESSTA系列MIMO控制器软件功能

发布日期: 2021-01-26

        VESSTA系列MIMIO控制器不仅拥有先进的硬件设计,还拥有丰富的软件功能。功能模块包含了MIMIO随机测试(随机)、MIMIO正弦测试(正弦扫频、驻留、步进正弦、共振搜索与驻留)、MIMIO冲击测试(经典冲击、冲击响应谱、瞬态冲击)、MIMO长时波形复现测试。在此基础上,根据用户的反馈和需求,我们不断升级软件功能,提供包括限值/下凹控制、多变量控制、长方阵控制、实时数据记录&离线分析等功能,为用户的试验需求提供合理有效的解决方案。

 

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MIMO随机测试

 

  • 随机测试

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        MIMO随机测试可设置2-16个激励组,每个激励组对应一个PSD参考谱。基于阻抗矩阵补偿的解耦合控制,实时精确控制各参考谱之间的相干和相位关系。每个控制通道PSD控制精度±1dB,控制通道间的相位误差±2度,相干误差±0.1(@120DOF), 同时动态范围90dB

       MIMO随机测试常应用于各类运输工具的测试,如汽车、火车等。

 

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MIMO正弦测试

 

  • 正弦测试

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       MIMO正弦测试可设置2-16个激励组,每个激励组对应一个参考谱。基于阻抗矩阵补偿的解耦合控制,可实时精确控制各正弦信号的幅值和相互之间的相位。每个控制通道的幅值控制精度优于±1dB相位控制精度优于±1°@25%比例带宽跟踪滤波器1oct/min扫频

       MIMO正弦测试可用于诸如旋转机械、直升机旋翼结构等具有正弦性质的实际环境的模拟。

 

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  • MIMO共振搜索与驻留测试

       MIMO共振搜索与驻留测试可依据传递特性幅值和Q值自动寻找共振频率,可进行频率锁定驻留或共振跟踪驻留。驻留过程中可修改振动量级大小或相位,以寻找最合适的共振点。

       共振搜索与驻留可用于较大产品结构共振频率的自动搜索与驻留试验,如验证火箭、导弹、航天飞行器等产品的振动可靠性能及抗震性能。

 

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MIMO冲击测试

 

  • MIMO经典冲击测试

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       MIMO经典冲击测试可设置2-16个激励组,每个激励组对应一个参考谱。基于阻抗矩阵补偿的解耦合控制,可实时精确控制各参考波形,如半正弦波、后峰锯齿波、梯形波、三角波等。同时在试验过程中,可实时进行频谱、冲击响应谱分析。

       MIMO经典冲击测试可模拟电子及电气元件在运输、搬运、军用操作过程中经受的冲击。

 

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  • MIMO冲击响应谱测试

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       MIMO冲击响应谱测试可设置2-16个激励组,每个激励组对应一个参考谱。基于阻抗矩阵补偿的解耦合控制,可精确控制各参考波形。冲击响应谱测试通过对时域和频域的双重控制,可根据用户定义的SRS目标谱,经Te优化或加速度优化,利用小波合成短暂的瞬态时间波形。

       MIMO冲击响应谱测试适用于需要模拟复杂特性瞬态激励的样品,如飞机、火箭等。

 

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  • MIMO瞬态冲击测试

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       MIMO瞬态冲击测试可设置2-16个激励组,每个激励组对应一个参考谱。基于阻抗矩阵补偿的解耦合控制,可实时精确控制各参考波形,如拍波,正弦,衰减正弦波,哨叫,白噪声,导入波形等。时域波形可以以多种形式导入,进行重采样、缩放、滤波、去直流等设计,生成定制的目标波形。

       瞬态冲击常用于常用于地震波模拟或碰撞试验。

 

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MIMO长时波形复现测试

 

  • MIMO长时波形复现测试

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       MIMO长时波形复现测试可设置2-16个激励组,每个激励组对应一个参考谱。基于阻抗矩阵补偿的解耦合控制,可实时精确控制各参考波形。长时波形复现匹配的信号编辑器,可导入和编辑多种格式的时域信号,可重采样、缩放、滤波等设计。

       MIMO长时波形复现测试用于将现场已记录的时间历程数据加载到振动台上,如在振动台上模拟产品在运输过程中经受的振动。

 

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其它功能

 

  • 多变量控制

       我们使用两种类型的传感器来控制振动台,低频采用位移传感器进行控制,高频采用加速度传感器进行控制,中间过渡阶段采用速度控制。尤其是对于液压台频率范围可以低至0.01Hz

 

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  • 限值/下凹控制

 

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       利用测量通道的限值/下凹控制,可帮助用户在试验过程中有效地保护试件。试验过程中,试件上某些点可能由于共振而引起很大的振动,限值/下凹控制对任意测量通道的振动量级设置辅助参考谱,以最大程度地保护试件。

       下凹控制可用于小型卫星等航天器的地面模拟测试。

 

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  • 数据记录&离线分析

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       使用数据记录&离线分析可记录整个试验过程中的数据到电脑硬盘中,试验人员可对这些记录下来的数据再进行离线数据分析(不需要振动控制器主机),丰富的分析功能可使试验人员能够全面地认知试验结果。这对于试验失败的情况下尤其有用,试验人员可使用数据记录&离线分析功能,对失败的试验数据进行细致的分析并提供建设性的建议。

 

  • 长方阵控制

       MIMO解耦矩阵可采用方阵、长方阵控制。典型配置功能仅支持方阵控制,其激励组数量等于驱动输出的数量。长方阵控制允许驱动输出的数量大于激励组数量。